Material Characterization
Instrumentation used to analyze the physical and chemical properties of materials, covering aspects like surface area, porosity, density, and thermal stability.
ezAFM | Atomic Force Microscope
Memperkenalkan ezAFM, mikroskop gaya atom (AFM) kompak yang dirancang untuk penelitian mutakhir tanpa memerlukan ruang besar khusus.
Nanomagnetics
Atomic Force Microscopy (AFM)
Akademik
Chemicals
Menampilkan 1 sampai 1 dari 1 produk