Atomic Force Microscopy (AFM)
Atomic Force Microscopy (AFM) adalah teknik karakterisasi permukaan beresolusi tinggi yang digunakan untuk menganalisis topografi dan sifat material pada skala nano.
ezAFM | Atomic Force Microscope
Memperkenalkan ezAFM, mikroskop gaya atom (AFM) kompak yang dirancang untuk penelitian mutakhir tanpa memerlukan ruang besar khusus.
Nanomagnetics
Akademik
Chemicals
Menampilkan 1 sampai 1 dari 1 produk