Bettersizer S3 Plus
Bettersizer S3 Plus
Rentang pengukuran: 0,01 – 3.500 μm (sistem laser), 2 – 3.500 μm (sistem citra)
Menggabungkan difraksi laser dan analisis citra dinamis dalam satu instrumen, sehingga ukuran dan bentuk partikel dapat diperoleh secara bersamaan
Sistem DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence) yang dipatenkan memungkinkan pengukuran partikel ultra-halus hingga 0,01 μm
Teknologi pencitraan dua kamera menampilkan citra partikel secara real-time dan mendeteksi partikel berukuran besar hingga 3.500 μm
Pengukuran indeks bias menentukan indeks bias sampel yang tidak diketahui dan meningkatkan keandalan hasil
Memenuhi standar: 21 CFR Part 11, ISO 13320, USP <429>, CE
Punya pertanyaan seputar produk ini?
Hubungi tim penjualan kamiTinjauan Produk
Related Products
BeNano 180 Zeta Max
BeNano 180 Zeta Max adalah analis nanopartikel canggih yang menggabungkan penyebaran cahaya dan transmisi untuk mengukur ukuran dan konsentrasi partikel, potensial zeta, berat molekul, indeks bias, dan sifat reologi dalam satu sistem ringkas.
Lihat Detail
Bettersizer 2600
Bettersizer 2600 menggunakan Teknologi Difraksi Laser untuk mengukur partikel 0,02–2.600 μm. Dengan 92 detektor dan analisis teori hamburan Mie, alat ini menghasilkan distribusi ukuran partikel yang akurat dan andal.
Lihat Detail